Autor:
Henríquez, Ricardo
Cancino, Simón
Espinosa, Andrés
Flores Carrasco, Marcos
Hoffmann, Michael
Kremer Erdmann, Germán
Lisoni Reyes, Judith
Moraga, Luis
Morales, Roberto
Oyarzún, Simón
Suárez, Marco
Zúñiga Páez, Alejandro
Muñoz Alvarado, Raúl
Enlace original:
http://repositorio.uchile.cl/handle/2250/119229
Henríquez, Ricardo
,
Cancino, Simón
,
Espinosa, Andrés
,
Flores Carrasco, Marcos
,
Hoffmann, Michael
,
Kremer Erdmann, Germán
,
Lisoni Reyes, Judith
,
Moraga, Luis
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Morales, Roberto
,
Oyarzún, Simón
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Suárez, Marco
,
Zúñiga Páez, Alejandro
,
Muñoz Alvarado, Raúl
,
[Electron grain boundary scattering and the resistivity of nanometric metallic structures]