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Langer, M. ,  Wagner, K. ,  Sebastian, T. ,  Huebner, R. ,  Grenzer, J. ,  Wang, Yutian ,  Kubota, T. ,  Schneider, T. ,  Stienen, S. ,  Lenz, K. ,  Schultheiss, H. ,  Lindner, J. ,  Takanashi, K. ,  Arias Federici, Rodrigo ,  Fassbender, J. ,  [Parameter-free determination of the exchange constant in thin films using magnonic patterning]